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Improved feedback charge method for quasistatic CV measurements in semiconductorsMEGO, T. J.Review of scientific instruments. 1986, Vol 57, Num 11, pp 2798-2805, issn 0034-6748Article

Analysis of junction-barrier-controlled Schottky (JBS) rectifier characteristicsBALIGA, B. J.Solid-state electronics. 1985, Vol 28, Num 11, pp 1089-1093, issn 0038-1101Article

The effect of series resistance on the current/voltage characteristics of metal-cermet-metal sandwich structuresBEYNON, J; LI, J.International journal of electronics. 1985, Vol 59, Num 6, pp 723-733, issn 0020-7217Article

Current-voltage relation in a time-dependent diodeKADISH, A; PETER, W; JONES, M. E et al.Applied physics letters. 1985, Vol 47, Num 2, pp 115-117, issn 0003-6951Article

Zum Einfluss optischer Strahlung auf das Strominduzierte resistive Verhalten von langen Mikrobrücken = Influence d'un rayonnement optique sur le comportement résistif induit par le courant de microponts longs = Influence of optical radiation on long microbridge current-induced resistive behaviorFRÖHLICH, H.Experimentelle Technik der Physik. 1984, Vol 32, Num 3, pp 247-254, issn 0014-4924Article

Pour le calcul des caractéristiques courant-tension de l'arc d'un courant alternatif dans un courant de gaz transversalPASHATSKIJ, N. V; LISITSYN, S. G.Inženerno-fizičeskij žurnal. 1984, Vol 47, Num 1, pp 133-138, issn 0021-0285Article

Fundamental characteristics of three-terminal thin-film microbridgesYUAN-DONG DAI; YEH, W. J; KAO, Y. H et al.Journal of low temperature physics. 1983, Vol 52, Num 1-2, pp 99-113, issn 0022-2291Article